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KS-42A/42AF電子化學(xué)試劑顆粒測定儀的介紹

更新時間:2024-07-31      點擊次數(shù):1087
  馬爾文Zetasizer系列納米粒度和Zeta電位及電位滴定,應(yīng)用光散射原理,能夠快捷的表征納米顆粒,膠體和蛋白質(zhì)的物理特性,廣泛用于納米材料領(lǐng)域,適用于所有能夠穩(wěn)定存在于溶液中作布朗運動的顆粒,包括乳液,懸浮液,蛋白質(zhì)等樣品的粒度分布和Zeta電位值、連續(xù)滴定pH。應(yīng)用領(lǐng)域包括:海洋、納米技術(shù)、生物、醫(yī)藥、涂層、化工等領(lǐng)域,符合ISO13321和ISO22412國際標(biāo)準(zhǔn)。其測量范圍。
 
  測試原理:使用壓力來施加作用于測試樣品上,通過觀察樣品在不同壓力下的變形、斷裂或碎裂情況來評估其強度和耐碎性??梢愿鶕?jù)需要選擇不同的測試方法,如單軸壓縮、剪切等。
 
  樣品容器:通常提供各種規(guī)格和形狀的樣品容器,以適應(yīng)不同類型和尺寸的顆粒材料。容器通常具有高密封性能,確保在施加壓力時不會發(fā)生泄漏。
 
  加載系統(tǒng):加載系統(tǒng)用于施加壓力到測試樣品上。它通常包括一個(或多個)活塞、液體或氣體驅(qū)動裝置以及相應(yīng)的傳感器來監(jiān)測施加到樣品上的壓力。
 
  數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng):顆粒強度測定儀配備了數(shù)據(jù)采集設(shè)備,可以實時記錄樣品在施加壓力下的變形情況。這些數(shù)據(jù)可以用來計算顆粒材料的強度參數(shù),并通過分析軟件進行進一步處理和解釋。
 
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